簡要描述:Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產(chǎn)專用高分辨率 X 射線衍射系統(tǒng)
產(chǎn)品目錄
品牌 | Bruker/布魯克 | 價格區(qū)間 | 100萬-150萬 |
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儀器種類 | 探測器及其他設備 | 應用領域 | 化工,電子 |
屬性 | X射線衍射儀 |
Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD
——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產(chǎn)專用高分辨率 X 射線衍射系統(tǒng)
產(chǎn) 品 概 述
Bruker’的 JV-QCVelox 是長期運行的 JV-QC 儀器中新、先進的 HRXRD。
它是化合物半導體行業(yè)高分辨率 X 射線衍射的專用質(zhì)量控制工具。 它適用于表征所有常見的半導體襯底,包括Si、GaAs、InP、GaN 等。
測量可以部分或*自動化運行,用戶可自定義的腳本處理日常工作。
VeloMAX™ 光學器件:通過 10 倍以上的強度改進實現(xiàn)高生產(chǎn)率
JV-QC-Velox 系統(tǒng)的入射光束包括許多標準功能以獲得高強度。 晶體選擇根據(jù)材料進行了優(yōu)化:
·在不損失分辨率的情況下,提高了通量并提高了可重復性。
·在不降低分辨率的情況下,可以實現(xiàn)比以前更快的測量和更高的精度。 這是在 MQW 分析中保持準確的成分值的關鍵。
·多層反射鏡作為所有 JV-QC-Velox 系統(tǒng)的標準配置
·對于高鑲嵌樣品,使用 25 英寸的調(diào)節(jié)晶體發(fā)散角來增強系統(tǒng)(標配)
·對于傳統(tǒng)的 III-V 系統(tǒng),可以提供更高分辨率的調(diào)節(jié)晶體 (<10") 來代替 25" 晶體(需要在采購訂單上注明)
·系統(tǒng)的校準可以輕松安全地進行,機柜中沒有開梁。
·檢測器級包括許多標準功能,可以增強系統(tǒng)的能力
·EDRc(增強動態(tài)范圍)檢測器的動態(tài)范圍 > 2x107
·自動衰減器,通過控制軟件進行控制。這將系統(tǒng)動態(tài)范圍增加到超過3x108
·三軸晶體是獲得所需晶體的關鍵GaN測量的分辨率。
·電動探測器狹縫允許對系統(tǒng)進行控制分辨率,無需手動更換模塊
·所有探測器級組件都是自動對齊的通過電腦
HRXRD 技術
材料:單晶襯底(例如 Si、GaAs、InP、GaN)和外延
層,包括多層結(jié)構(gòu)
參數(shù):層厚度、成分和松弛、應變、區(qū)域均勻性、失配、摻雜劑水平、錯切、層傾斜。
·直接測量多層結(jié)構(gòu)內(nèi)層的松弛/應變/組成
·自動樣品校準、測量、分析和報告
·由 JV-RADS 軟件執(zhí)行的分析。
·化合物半導體襯底可實現(xiàn)對稱、非對稱和斜對稱反射
VeloSWAP: 高級樣品板
運動學樣品板:可以快速更換樣品板——每個板都可以在幾秒鐘內(nèi)移除/更換。 由于運動加載,安裝后無需對齊板。 可以提供多個板并互換使用。
·31 x 2" 運動學樣品板,用于大批量測量,以增加板重新加載之間的
時間并提高生產(chǎn)力和工具效率。
·外部條碼閱讀器可以安裝到工具或獨立站。
JV-QCVelox 配備機器人,可從晶圓盒進行全自動測量
·2" 至 200 毫米磁帶
·自動檢測晶圓盒尺寸
·任意數(shù)量插槽的任意配方組合
·提高更大晶圓尺寸的生產(chǎn)力
·無需人工處理晶圓,提高晶圓清潔度
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